한국신뢰성학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Reliability Society Conference)

한국신뢰성학회 (The Korean Reliability Society)
권호 표지

HALT 기술을 이용한 Note PC main board의 NDF성 고장 검토 사례

The analysis on the NDF(No Defect Found) of Note PC main board using HALT

  • 강상구 (삼성전자(주) CS경영센터 전문기술그룹) ;
  • 김재이 (삼성전자(주) 컴퓨터 시스템(사) 제조기술그룹)
  • 발행 : 2001.06.01
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초록

본 논문은 시장 사용 조건에서 발생한 PC제품의 Main board 고장품이 회수 후 검토 시 정상적으로 기능하여 나타나는 NDF(No Defect Found) 판정 상황에 대한 효과적인 검토 방안을 제시한다. NDF 시료의 고장성 진위 여부를 가리기 위해 HALT(Highly Accelerated Life Test)기술을 응용한 결과 기존의 시험 검토 방법보다 높은 재현 효과를 보았다. 결함 제품의 잠재적인 취약부위를 단시간에 효과적으로 촉진하고 들춰내는 HALT 기술은 전자 제품의 NDF성 고장을 기술적으로 접근하여 개선할 수 있는 기초를 제공하는 유용한 가속 스트레스 시험 기술임이 입증되었다.

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