근적외선 특성을 이용한 후지사과의 결점 검출에 관한 연구

NIR Characteristics for Defect Detection of ‘Fuji’Apple

  • 이수희 (서울대학교 농업생명과학대학 생물자원공학부) ;
  • 노상하 (서울대학교 농업생명과학대학 생물자원공학부)
  • 발행 : 2000.02.01