대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)

대한전기학회 (The Korean Institute of Electrical Engineers)
권호 표지

동적 전원 전류(Dynamic Power Supply Current : DPSC)를 이용한 새로운 SRAM Transparent 테스트

A New SRAM Transparent Testing Methodology : Using Dynamic Power Supply Current

  • 김홍식 (연세대학교 전기컴퓨터 공학과) ;
  • 강성호 (연세대학교 전기컴퓨터 공학과)
  • Kim, Hong-Sik (Department of Electrical and Computer Engineering, Yonsei University) ;
  • Kang, Sung-Ho (Department of Electrical and Computer Engineering, Yonsei University)
  • 발행 : 1999.11.20
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초록

고성능 시스템이 개발됨에 따라 실시간 테스트의 중요성이 증가하고 있다. 메모리의 경우 저장된 값을 보존하면서 테스트할 수 있는 Transparent 테스트 알고리듬들이 개발되고 있다. 본 논문에서는 테스트 시간과 오버 헤드를 줄일 수 있는 새로운 Transparent 테스트 알고리듬을 제안한다. 제안하는 알고리듬은 SRAM의 전이 쓰기 동작 중에 발생하는 동적 전원 전류를 이용하는 방법이다. 동적 전원전류와 고장 모델과의 상관 관계를 규명한 결과 기존의 알고리듬보다 많은 고장 모델들을 테스트 할 수 있음을 발견하였다. 또한 쓰기 동작 중의 전류를 감지하기 때문에 압축치를 생성할 필요가 없어 그에 따른 테스트 시간과 오버 헤드를 줄일 수 있다. 본 논문에서는 기존의 March 알고리듬들을 본 테스트 방법론에 적합하도록 변형하는 방법을 설명하고 기존의 transparent 알고리듬과의 테스트 시간 고장 검출률 그리고 BIST 구현시의 하드웨어 오버헤드 측면에서 비교를 한다.

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