Ultrathin Window EPMA를 이용한 황사입자의 특성 분석

Characterization of Asian Dust Using Ultrathin Window EPMA

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  • R. Van Grieken
  • 발행 : 1999.10.01

초록

최근에 개발된 ultrathin window를 장착한 electron probe X-ray microanalysis(EPMA) 분석법(Ro et. el., 1999; Osan et. al., 1999; Szaloki et. al., 1999)은 종래의 통상적인 EPMA 방법으로는 분석하기 어려웠던 탄소, 질소, 산소 등의 원소를 정량적으로 분석할 수 있는 가능성을 제시하였다. 개개 입자의 형태와 크기 뿐 아니라 화학조성에 대한 정보를 제공하는 EPMA 분석법은 대기 중 개개 입자에 대한 생성, 이동, 반응 및 소멸에 관한 자세한 정보를 제공하기 때문에 지난 20여 년간 이 분석법을 사용하여 많은 연구가 진행되어 왔다.(중략)

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