The Strain Induced Ferroelectric Properties of MFIS-FET Structure Using c-axis Oriented (Ba,Sr)$TiO_3$

MFIS 구조에서의 응력에 의한 (Ba,Sr)$TiO_3$ 박막의 강유전성

  • 전성진 (성균관대학교 재료공학과) ;
  • 이재찬 (성균관대학교 재료공학과)
  • Published : 1999.11.01