전극표면의 특성연구를 위한 X-선 흡수미세구조의 In Situ 응용

In Situ Applications of X-ray Absorption Fine Structure to the Characterization of Electrode Surfaces

  • 김성현 (건국대학교 이과대학 화학과) ;
  • 하성용 (건국대학교 이과대학 화학과)
  • 발행 : 1999.04.01