MOCVD로 성장시킨 GaN(0001)/$Al_2O_3$ 박막의 투과전자현미경을 이용한 격자결함 분석

  • 김긍호 (한국과학기술연구원 세라믹공정연구센터) ;
  • 김현정 (한국과학기술연구원 합금설계연구센터) ;
  • 금동화 (한국과학기술연구원 합금설계연구센터)
  • Published : 1998.05.01