Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference (한국재료학회:학술대회논문집)

1996.11a
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Pages.2-2
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1996

Materials Research Society of Korea (한국재료학회)

권호 표지

Structural Characterization of Semiconductor Thin Film/Interface using Hihg-Resolution XRD

고분해능 XRD를 이용한 반도체 박막/계면의 구조특성 분석

김창수 (한국표준과학연구원) ;
조양구 (한국표준과학연구원) ;
노삼규 (한국표준과학연구원) ;
이동건 (영남대학교) ;
배인호 (영남대학교)

Published : 1996.11.01

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