PICTS법에 의한 CdTe(111)/Si(000)의 깊은 결함준위 연구

• Baek, Un-Hyeong (Dongguk University) ;
• Han, Myeong-Su (Dongguk University) ;
• Kim, Heung-Guk (Agency for Defense Development) ;
• Kim, Jae-Muk (Agency for Defense Development) ;
• Song, Byeong-Gwon (Dongguk University) ;
• Heo, Yu-Beom (Dongguk University) ;
• Kim, Deuk-Nyeong (Dongguk University) ;
• Gang, Tae-Won (Dongguk University) ;
• Jeong, Yong-Taek (Agency for Defense Development)

• 백운형 (동국대학교 물리학과) ;
• 한명수 (동국대학교 물리학과) ;
• 김흥국 (국방과학연구소) ;
• 김재묵 (국방과학연구소) ;
• 송병권 (동국대학교 물리학과) ;
• 허유범 (동국대학교 물리학과) ;
• 김득녕 (동국대학교 물리학과) ;
• 강태원 (동국대학교 물리학과) ;
• 정용택 (국방과학연구소)

• Published : 1996.06.01

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