The measurement of In composition in InGaAs/InAlAs/Inpp P-HEMT structure grown by MBE

  • 이해권 (한국전자통신연구소 반도체연구단 재료기술 연구실) ;
  • 홍상기 (한국전자통신연구소 반도체연구단 재료기술 연구실)
  • Published : 1996.02.01