Determination of Reflectance at Abrupt Waveguide Interfaces with Large Structural Difference

구조변화가 심한 이종 도파로 경계면에서의 반사율

  • 권경일 (LG 전선 (주) 광통신연구소 광소자연구실) ;
  • 박인식 (LG 전선 (주) 광통신연구소 광소자연구실) ;
  • 심종인 (한양대학교 전 기공학과)
  • Published : 1996.09.01