Metal Contaminations in Si-Processes studied by TRXRF

TRXRF를 사용한 반도체 공정 중 금속 오염 발생 및 제거 특성 분석

  • 이춘수 (한국전자통신연구소 반도체연구단) ;
  • 백종태 (한국전자통신연구소 반도체연구단)
  • Published : 1994.11.01