Multi-Step 스퍼터링 PECVD에 의한 실리콘 산화막의 특성에 관한 연구

A Study on the Characteristics of Silicon Oxide Films by Multi-Step Sputteirng PECVD

  • 박민 (한국전자통신연구소 미세구조연구실) ;
  • 이중환 (한국전자통신연구소 미세구조연구실) ;
  • 이상환 (한국전자통신연구소 미세구조연구실) ;
  • 유병곤 (한국전자통신연구소 미세구조연구실) ;
  • 구진근 (한국전자통신연구소 미세구조연구실)
  • 발행 : 1994.05.01