한국전자현미경학회:학술대회논문집

한국현미경학회 (Korean Society of Microscopy)
권호 표지

고분해능 투과전자현미경을 이용한 CdTe/(001) GaAs 박막의 결함 분석

A High-Resolution Transmission Electron Microscopy Study of Defects in CdTe/(001) GaAs

  • 권명석 (한국과학기술원 전자재료공학과) ;
  • 이정용 (한국과학기술원 전자재료공학과)
  • 발행 : 1993.06.01
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