한국전자현미경학회:학술대회논문집

Korean Society of Microscopy (한국현미경학회)
권호 표지

TEM을 이용한 InGaAs/InP 양자우물구조의 계면특성 연구

  • 남산 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석실) ;
  • 이희태 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석실) ;
  • 오대곤 (한국전자통신연구소 반도체연구단 광전자연구실) ;
  • 조경익 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석실)
  • Published : 1993.06.01
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