Agglomeration Mechanism of the TiSi2 Thin Film and Electrical Resistivity of sub-half micron Ti-polycide Line

TiSi2 박막의 응집기구와 sub-half micron Ti-polycide 배선의 전기저항

  • 김영욱 (삼성전자(주)반도체부문) ;
  • 이내인 (삼성전자(주)반도체부문) ;
  • 고종우 (삼성전자(주)반도체부문) ;
  • 김일권 (삼성전자(주)반도체부문) ;
  • 안성태 (삼성전자(주)반도체부문)
  • Published : 1993.05.01