실리콘 산호막 위에 적층된 다결정실리콘층의 미시구조에 대한 TEM 분석

Microstructural Analysis of polycrystalline Silicon on $SiO_2$ Using TEM

  • 백문철 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석연구실) ;
  • 남산 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석연구실) ;
  • 권오준 (한국전자통신연구소 반도체연구단 물성분석연구실) ;
  • 송윤호 (한국전자통신연구소 반도체연구단 고집적소자연구실) ;
  • 백종태 (한국전자통신연구소 반도체연구단 고집적소자연구실) ;
  • 남기수 (한국전자통신연구소 반도체연구단 고집적소자연구실)
  • 발행 : 1992.05.01