한국재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference)

한국재료학회 (Materials Research Society of Korea)
권호 표지

분광식 일립소메타를 이용한 GaAs/Al(x)Ga(1-x)As/GaAs이종구조의 비파괴적인 측정

Nondestructive Characterization of GaAs/$Al_{x}Ga_{1-x}$As/GaAs HMESFET Heterostructures by Spectroscopic Ellipsometry

  • 최광수 (수원대학교 전자재료공학과) ;
  • 이문희 (수원대학교 전자재료공학과) ;
  • 배규식 (수원대학교 전자재료공학과)
  • 발행 : 1992.05.01
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